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光學(xué)貨架保質(zhì)期測試儀

簡要描述:光學(xué)二氧化碳測量方法的較低精度和高脆弱性是制約包裝飲料分析二氧化碳使用的首要問題。新的 CDA-OST(Steinfurth 光學(xué)貨架保質(zhì)期測試儀)將光學(xué)測量的非破壞性功能與破壞性測量方法的高精度相結(jié)合,通過這種方式提供了全新的,也是準確的測量解決方案。Steinfurth CDA-OST 將樣品的破壞性制備和無損光學(xué)測量(包括瓶頸直徑的自動測量)組合在一個設(shè)備中。

  • 產(chǎn)品型號:Steinfurth CDA-OST
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新日期:2024-06-28
  • 訪  問  量:946

詳細介紹

光學(xué)二氧化碳測量方法的較低精度和高脆弱性是制約包裝飲料分析二氧化碳使用的首要問題。新的 CDA-OST(Steinfurth 光學(xué)貨架保質(zhì)期測試儀)將光學(xué)測量的非破壞性功能與破壞性測量方法的高精度相結(jié)合,通過這種方式提供了全新的,也是準確的測量解決方案。

每個飲料/包裝組合對光學(xué)傳感器信號都有各自的影響。 通過使用破壞性和非破壞性測量技術(shù)同時測量同一樣品,Steinfurth CDA-OST 能夠“學(xué)習(xí)"這種影響。 通過這種設(shè)置,可以顯著減少準確測量二氧化碳和監(jiān)測保質(zhì)期所需的樣品數(shù)量。

Steinfurth CDA-OST 光學(xué)貨架保質(zhì)期測試儀將樣品的破壞性制備和無損光學(xué)測量(包括瓶頸直徑的自動測量)組合在一個設(shè)備中,是無損二氧化碳測量和儲藏室保存包裝飲料的貨架保質(zhì)期分析的專業(yè)解決方案。


設(shè)備操作:

使用有損和無損光學(xué)兩種技術(shù)對新飲料/包裝組合的第一個樣品進行測試。一旦設(shè)備了解了包裝/飲料對光學(xué)傳感器信號的影響,就可以以相同的高精度光學(xué)(非破壞性)測量所有其他同類樣品。


設(shè)備優(yōu)勢:

· 準確的無損二氧化碳測量

· 非破壞性和破壞性測量技術(shù)的組合測量

· 專/利技術(shù)組合

· 顯著減少存儲的樣品

· 靈活的可編程測試程序

· 用戶獨立,自動操作

· 維護要求低

· 簡單、直觀的操作和校準

· 自動測量瓶頸直徑


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